MS104TS/02梅特勒電子天平 結果可信且使用方便. 高級分析天平： 120 g量程、0.1 mg可讀性、7''觸摸屏、全金屬機身、高性能稱重傳感器、FACT、11個易于使用的應用程序、高級連接和數據管理、用戶管理、易于清潔 易于操作。

梅特勒電子天平MS204TS/02 結果可信且使用方便. 高級分析天平： 220 g量程、0.1 mg可讀性、7''觸摸屏、全金屬機身、高性能稱重傳感器、FACT、11個易于使用的應用程序、高級連接和數據管理、用戶管理、易于清潔。

梅特勒托利多電子天平MS304TS/02 結果可信且使用方便. 高級分析天平： 320 g量程、0.1 mg可讀性、7''觸摸屏、全金屬機身、高性能稱重傳感器、FACT、11個易于使用的應用程序、高級連接和數據管理、用戶管理、易于清潔

梅特勒托利多XP系列工業微量分析天平 標準量程：1g/81g/101g/220g/520g，精度選擇：0.1-0.01mg。梅特勒-托利多的超越系列型分析天平是分析天平領域中的又一里程碑。革命性的創新設計帶來了*的稱量性能并為操作者、樣品稱量和數據管理的安全性設立了新的標準。

XP系列梅特勒十萬分之一位工業分析天平 梅特勒-托利多的超越系列型分析天平是分析天平領域中的又一里程碑。革命性的創新設計帶來了*的稱量性能并為操作者、樣品稱量和數據管理的安全性設立了新的標準。標準量程：1g/81g/101g/220g/520g 精度選擇：0.1-0.01mg

梅特勒分析天平 MS105DU/A 用于滿足更高的精確度需求. 半微量天平用于稱量小的樣品： 120 / 42 g 處理能力，0.1 / 0.01 mg 可讀性，高分辨率稱重傳感器，全自動校準技術 （FACT），符合人體工學的門，移液器檢測應用

梅特勒托利多分析天平 MS205DU/A 用于滿足更高的精確度需求. 半微量天平用于稱量小的樣品： 220 / 82 g 處理能力，0.1 / 0.01 mg 可讀性，高分辨率稱重傳感器，全自動校準技術 （FACT），符合人體工學的門，移液器檢測應用

梅特勒電子天平ML104T/02 后置式電磁力傳感器，精度高，反應速度快，數據穩定。2ppm/℃的超低靈敏度漂移。天平內置校準砝碼，隨時方便校準。超/欠載報警，動態溫度補償。

梅特勒電子天平ML204T/02 小體積，大智慧. 緊湊型天平適合多種用途： 220 g 處理能力，0.1 mg 可讀性，4.5“ 觸摸屏，全自動校準技術 （FACT），LevelControl 水平控制系統，電池供電